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紅外應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-NIR硫系，紅外樹脂等材料對可見光不透過，這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實(shí)現(xiàn)，為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀，采用850nm或940nm波長，能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布。 -
應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)WPA-200-MT是Z業(yè)用于手機(jī)鏡頭等小尺寸鏡頭的應(yīng)力雙折射測量設(shè)備。鏡片的雙折射現(xiàn)象會造成鏡片成像性能（MTF）下降，智能手機(jī)所使用的鏡片需要高解析度，因此需要減少雙折射的影響，了解鏡片的雙折射的大小，是鏡片生產(chǎn)過程中*的，WPA-200-MT正符合這樣的需求，并能高速完成各項(xiàng)測量。 -
注塑件內(nèi)應(yīng)力檢測儀是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。 -
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
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雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀，PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm，可以測量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，*的雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。 -
雙折射測量儀PA-Micro操作簡單，測量速度可以快到3秒。更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。具有多種分析功能和測量結(jié)果的比較。維護(hù)簡單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。