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online雙折射測(cè)量儀KAMAKIRI -X stageSTS的低配版,可升級(jí)STS 。 操作簡(jiǎn)單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布。 記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。
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在線型雙折射測(cè)量儀KAMAKIRI WM,適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實(shí)現(xiàn)各個(gè)環(huán)節(jié)的雙折射測(cè)量。 LIVE實(shí)時(shí)輸出雙折射的信息。 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測(cè)的同時(shí)對(duì)異常點(diǎn)發(fā)出警報(bào)。實(shí)時(shí)記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測(cè)量的寬度。
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online雙折射測(cè)量儀KAMAKIRI W 適用于薄膜等生產(chǎn)線上,實(shí)現(xiàn)各個(gè)環(huán)節(jié)的雙折射測(cè)量 LIVE實(shí)時(shí)輸出雙折射的信息 OK/NG可以在執(zhí)行Live監(jiān)測(cè)的同時(shí)對(duì)異常點(diǎn)發(fā)出警報(bào) 操作簡(jiǎn)單,可以調(diào)整色彩顯示更直觀的了解雙折射分布 實(shí)時(shí)記錄雙折射的數(shù)值數(shù)據(jù),以進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)分析。 可以通過在系統(tǒng)中增加偏光感應(yīng)器來擴(kuò)展測(cè)量的寬度。
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歐屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的雙折射/殘余應(yīng)力測(cè)量設(shè)備,其高速相機(jī)CCD芯片與Photonic Lattice公司的偏光陣列片很好的結(jié)合,研制在線雙折射/殘余應(yīng)力測(cè)量儀,世界上僅有online雙折射測(cè)量儀KAMAKIRI可以提供,廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜,PVA,PC,COP和TAC等領(lǐng)域。
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雙折射測(cè)量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量儀,PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm,可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。
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ME-210-T膜厚測(cè)量儀為一種光學(xué)系膜厚測(cè)量裝置,這個(gè)裝置的特點(diǎn)是可以高精度測(cè)量1nm一下的極薄膜,也適合測(cè)量玻璃等透明基板上的薄膜。ME-210-T 活用了本公司*的偏光Senor 技術(shù),將不能變?yōu)榭赡埽酝募夹g(shù)是無法測(cè)量0.5mm厚的玻璃基板,在這項(xiàng)技術(shù)下,可進(jìn)行極薄膜的高精度測(cè)量,舉例來說顯示器用的ITO膜或配向膜的評(píng)估,也可運(yùn)用ME-210-T輕松達(dá)成。